{"id":"bgbl1-2010-52-4","kind":"bgbl1","year":2010,"number":52,"date":"2010-10-27T00:00:00Z","url":"https://offenegesetze.de/veroeffentlichung/bgbl1/2010/52#page=24","api_url":"https://api.offenegesetze.de/v1/veroeffentlichung/bgbl1-2010-52-4/","document_url":"https://media.offenegesetze.de/bgbl1/2010/bgbl1_2010_52.pdf#page=24","order":4,"title":"Zweite Verordnung zur Änderung der Kostenverordnung für die Zulassung von Messgeräten zur Eichung","law_date":"2010-10-18T00:00:00Z","page":1430,"pdf_page":24,"num_pages":3,"content":["1430           Bundesgesetzblatt Jahrgang 2010 Teil I Nr. 52, ausgegeben zu Bonn am 27. Oktober 2010\nZweite Verordnung\nzur Änderung der Kostenverordnung\nfür die Zulassung von Messgeräten zur Eichung\nVom 18. Oktober 2010\nAuf Grund des § 14 Satz 1 des Eichgesetzes, der                   ordnung, der gemäß § 77 Absatz 3 der Eichord-\nzuletzt durch Artikel 1 Nummer 4 Buchstabe b des Ge-                 nung weiter Anwendung finden kann,\nsetzes vom 2. Februar 2007 (BGBl. I S. 58) neu gefasst           8. die Prüfung oder Erteilung von Anerkennungen\nworden ist, in Verbindung mit dem 2. Abschnitt des Ver-              von Herstellerzeichen für Flaschen und Maßbe-\nwaltungskostengesetzes vom 23. Juni 1970 (BGBl. I                    hältnisse oder deren Änderungen gemäß § 4 der\nS. 821) verordnet das Bundesministerium für Wirtschaft               Fertigpackungsverordnung.“\nund Technologie:\n2. § 2 wird wie folgt gefasst:\nArtikel 1                                                         „§ 2\nDie Zulassungskostenverordnung vom 22. Dezember                                Gebührenberechnung\n1992 (BGBl. I S. 2471), die zuletzt durch Artikel 18 des            (1) Die Gebühren werden nach dem Zeitaufwand\nGesetzes vom 10. November 2001 (BGBl. I S. 2992)                 bestimmt, soweit nicht nach § 3 Gebühren auch für\ngeändert worden ist, wird wie folgt geändert:                    den sachlichen Aufwand zu erheben sind. Bei der\n1. § 1 wird wie folgt gefasst:                                   Berechnung der Gebühr sind die in der Anlage zu\ndieser Verordnung für die einzelnen Themenbereiche\n„§ 1\naufgeführten Stundensätze zugrunde zu legen. Für\nAnwendungsbereich                            jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser\nFür jede der nachstehend aufgeführten Amts-                Stundensätze zu berechnen.\nhandlungen der Physikalisch-Technischen Bundes-                  (2) Zum Zeitaufwand gehören insbesondere fol-\nanstalt (PTB) nach § 13a Nummer 1 und 2 des                   gende Tätigkeiten:\nEichgesetzes werden Gebühren und Auslagen nach\n1. vorbereitende Schriftwechsel und Gespräche,\ndieser Verordnung erhoben:\nAufbau und Umbau von Prüfanlagen einschließ-\n1. die Prüfung, Bewertung oder Zulassung von                      lich der notwendigen Werkstattarbeiten sowie\nMessgeräten gemäß § 7c Absatz 2 in Verbindung                  sonstige Vorarbeiten,\nmit Anlage 9 Nummer 2 der Eichordnung, gemäß\n2. die unmittelbare Prüfarbeit am Prüfobjekt,\nden §§ 18 bis 19 oder gemäß § 28 der Eichord-\nnung,                                                      3. Abbau der Prüfanlagen, Auswertung der Proto-\nkolle, Anfertigung der Prüfungsurkunden sowie\n2. die Verlängerung, Änderung oder Ergänzung von\nsonstige Abschlussarbeiten,\nerteilten Zulassungsbescheiden gemäß § 20 Ab-\nsatz 1 oder § 26 Absatz 2 oder 3 der Eichordnung,          4. Besprechungen sowie Schreibarbeiten.\n3. die Übertragung einer Bauartzulassung gemäß                   (3) Werden Amtshandlungen nach § 1 außerhalb\n§ 27 der Eichordnung,                                      der Bundesanstalt erbracht, so sind Gebühren nach\ndem Zeitaufwand ferner zu berechnen für\n4. die Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungs-\nhilfsmitteln der zuständigen Behörden und der              1. Reisezeiten, die innerhalb der üblichen Arbeitszeit\nstaatlich anerkannten Prüfstellen gemäß § 13a                  liegen oder von der Bundesanstalt besonders ab-\nNummer 2 in Verbindung mit § 13 Absatz 1 Num-                  gegolten werden,\nmer 2 des Eichgesetzes,                                    2. Wartezeiten, die vom Kostenschuldner verursacht\n5. die Feststellung der Gleichwertigkeit von Prüfun-              worden sind.“\ngen oder Kennzeichnungen von Messgeräten ge-            3. § 3 wird wie folgt geändert:\nmäß § 80 Absatz 2 und 3 der Eichordnung,                   a) Absatz 1 wird aufgehoben\n6. die Vergleichsmessungen von Dosimetern gemäß               b) Die Absatzbezeichnung „(2)“ wird gestrichen.\n§ 2 Absatz 3 Satz 4 der Eichordnung,\n4. § 4 wird aufgehoben.\n7. die Änderungen an bestehenden Bescheinigun-\ngen über die Anerkennung von Herstellerzeichen          5. Die §§ 5 und 6 werden die §§ 4 und 5.\nfür Schankgefäße gemäß § 45 Absatz 3 der Eich-          6. Folgende Anlage wird angefügt:","Bundesgesetzblatt Jahrgang 2010 Teil I Nr. 52, ausgegeben zu Bonn am 27. Oktober 2010    1431\n„Anlage\n(zu § 2)\nFür die Amtshandlungen nach § 1 dieser Verordnung werden die nach-\nstehend aufgeführten Stundensätze berechnet:\nStundensatz\nThemenbereich                                   Fachbereich\nEuro\nThemenbereich 1                           Kinematik\nAkustik, Ultraschall,\nBeschleunigung                  75        Schall\nAngewandte Akustik\nThemenbereich 2                           Gase\nDurchfluss\n80        Flüssigkeiten\nWärme\nThemenbereich 3                           Gleichstrom und Niederfrequenz\nElektrizität und\nMagnetismus                               Hochfrequenz und Felder\nElektrische Energiemesstechnik\n70\nQuantenelektronik\nHalbleiterphysik und Magnetismus\nElektrische Quantenmetrologie\nThemenbereich 4                           Radioaktivität\nIonisierende Strahlung\nStrahlentherapie und Röntgendiag-\nnostik\nStrahlenschutzdosimetrie\n78\nIonenbeschleuniger und Referenz-\nstrahlungsfelder\nNeutronenstrahlung\nGrundlagen der Dosimetrie\nThemenbereich 5                           Bild- und Wellenoptik\nLänge, dimensionelle\nMetrologie                                Quantenoptik und Längeneinheit\nOberflächenmesstechnik\n76        Dimensionelle Nanometrologie\nKoordinatenmesstechnik\nInterferometrie an Maßverkörpe-\nrungen\nThemenbereich 6                           Masse\nMasse und abgeleitete           75\nGrößen                                    Festkörpermechanik\nThemenbereich 7                           Metrologie in der Chemie\nMetrologie in der\nChemie                          73        Gasanalytik und Zustandsverhalten\nStoffeigenschaften und Druck","1432 Bundesgesetzblatt Jahrgang 2010 Teil I Nr. 52, ausgegeben zu Bonn am 27. Oktober 2010\nStundensatz\nThemenbereich                                           Fachbereich\nEuro\nThemenbereich 10                                Detektorradiometrie und Strah-\nThermometrie                                    lungsthermometrie\n78         Temperatur\nKryo- und Vakuumphysik\nSonstige Leistungen                             Gesetzliches Messwesen und\n76         Technologietransfer\n69         Justitiariat\n“.\nArtikel 2\nDiese Verordnung tritt am 1. Dezember 2010 in Kraft.\nDer Bundesrat hat zugestimmt.\nBerlin, den 18. Oktober 2010\nDer Bundesminister\nf ü r W i r t s c h a f t u n d Te c h n o l o g i e\nRainer Brüderle"]}